- Neuf

Référence : 09057-10
Goniomètre à rayons X équipé de deux moteurs pas à pas indépendants permettant un positionnement angulaire précis de l'échantillon et du détecteur. Grâce à son système d'auto-calibration et à sa reconnaissance automatique, il offre une utilisation intuitive et une grande précision pour les expériences de diffraction et d'analyse cristallographique.
Le goniomètre XR 4.0 est un dispositif de positionnement angulaire de précision destiné aux expériences de diffraction des rayons X et à l'étude des propriétés cristallographiques des matériaux. Il est équipé de deux moteurs pas à pas fonctionnant indépendamment, permettant le déplacement précis de l'échantillon et du détecteur selon différentes configurations expérimentales.
Une gamme d'accessoires complémentaires permet d'étendre les possibilités expérimentales du goniomètre XR 4.0 et d'optimiser les applications de diffraction et d'analyse des matériaux.
| Référence | Désignation du TP |
|---|---|
| P2540105 | Rayons X caractéristiques du cuivre |
| P2540205 | Rayons X caractéristiques du molybdène |
| P2540305 | Rayons X caractéristiques du fer |
| P2540405 | Intensité des rayons X caractéristiques en fonction du courant et de la tension anodiques |
| P2540505 | Monochromatisation des rayons X du molybdène |
| P2540605 | Monochromatisation des rayons X du cuivre |
| P2540705 | Double dédoublement de la raie Kα du molybdène et étude de sa structure fine |
| P2540805 | Dédoublement du doublet Kα du fer et étude de sa structure fine |
| P2540905 | Loi de déplacement de Duane-Hunt et quantum d'action de Planck |
| P2541005 | Raies caractéristiques des rayons X de différents matériaux d'anode et loi de Moseley |
| P2541105 | Absorption des rayons X |
| P2541205 | Seuils d'absorption K et L des rayons X, loi de Moseley et constante de Rydberg |
| P2541305 | Étude de la structure de monocristaux de NaCl selon différentes orientations |
| P2541705 | Diffusion Compton des rayons X |
| P2542105 | Figures de diffraction de Debye-Scherrer de poudres présentant trois réseaux cubiques de Bravais (géométrie Bragg-Brentano) |
| P2542205 | Figures de diffraction de Debye-Scherrer de poudres à structure diamant (géométrie Bragg-Brentano) |
| P2542305 | Figures de diffraction de Debye-Scherrer de poudres à structure cristalline hexagonale |
| P2542405 | Figures de diffraction de Debye-Scherrer de poudres à structure cristalline tétragonale |
| P2542505 | Figures de diffraction de Debye-Scherrer d'un échantillon de poudre cubique |
| P2542605 | Mesure de l'intensité des réflexions de Debye-Scherrer à partir d'un échantillon de poudre cubique |
| P2542705 | Mesures de diffraction de Debye-Scherrer pour l'étude de la texture de tôles laminées |
| P2542805 | Rayons X caractéristiques du tungstène |
| P2544005 | Spectroscopie énergétique des rayons X – Étalonnage du détecteur d'énergie X |
| P2544105 | Résolution en énergie du détecteur de rayons X |
| P2544205 | Rayonnement de fluorescence intrinsèque du détecteur de rayons X |
| P2544505 | Spectroscopie qualitative de fluorescence X des métaux – Loi de Moseley |
| P2544605 | Analyse qualitative par fluorescence X de matériaux alliés |
| P2544705 | Analyse qualitative par fluorescence X d'échantillons de poudre |
| P2544805 | Analyse qualitative par fluorescence X de solutions |
| P2544905 | Analyse qualitative par fluorescence X d'échantillons de minerais |
| P2545005 | Analyse quantitative par fluorescence X de matériaux alliés |
| P2545105 | Analyse quantitative par fluorescence X de solutions |
| P2545205 | Spectroscopie de fluorescence X – Détermination de l'épaisseur de couches |
| P2546005 | Effet Compton – Mesure directe dispersive en énergie |
| P2546105 | Mesures dispersives en énergie des seuils d'absorption K et L |
| P2546205 | Détermination des paramètres de maille d'un monocristal |
| P2546305 | Loi de déplacement de Duane-Hunt |