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Goniomètre à rayons X XR 4.0 | Diffraction et Cristallographie
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09057-10 Goniomètre pour Appareil à Rayons X



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Référence : 09057-10




Goniomètre à rayons X équipé de deux moteurs pas à pas indépendants permettant un positionnement angulaire précis de l'échantillon et du détecteur. Grâce à son système d'auto-calibration et à sa reconnaissance automatique, il offre une utilisation intuitive et une grande précision pour les expériences de diffraction et d'analyse cristallographique.



Fonctionnement et applications

Le goniomètre XR 4.0 est un dispositif de positionnement angulaire de précision destiné aux expériences de diffraction des rayons X et à l'étude des propriétés cristallographiques des matériaux. Il est équipé de deux moteurs pas à pas fonctionnant indépendamment, permettant le déplacement précis de l'échantillon et du détecteur selon différentes configurations expérimentales.



Avantages et caractéristiques principales

  • Auto-calibration : système de goniométrie doté d'une fonction d'auto-calibration pour faciliter la mise en service et garantir un positionnement précis.
  • Plug & Measure : reconnaissance automatique du goniomètre par le système de mesure pour une installation rapide et simplifiée.
  • Positionnement indépendant : bloc goniométrique équipé de deux moteurs pas à pas indépendants permettant la rotation séparée du porte-échantillon et du détecteur, ainsi qu'un fonctionnement avec couplage angulaire 2:1.
  • Support de détecteur : équipé d'un porte-fente permettant l'installation de supports de fentes et de feuilles absorbantes. L'ouverture peut être ajustée afin de modifier la résolution angulaire.
  • Système de sécurité : dispositif de barrières optiques limitant la plage de rotation autorisée et protégeant les détecteurs contre les déplacements angulaires excessifs.
  • Commande intuitive : utilisation directe depuis l'appareil ou pilotage via un ordinateur.



Caractéristiques techniques

  • Pas angulaire réglable : 0,1° à 10°
  • Vitesse de déplacement : 0,5 à 100 s/pas
  • Plage de rotation de l'échantillon : 0° à 360°
  • Plage de rotation du détecteur : –10° à +170°
  • Dimensions : 35 × 30 × 20 cm
  • Masse : 5 kg



Accessoires recommandés

Une gamme d'accessoires complémentaires permet d'étendre les possibilités expérimentales du goniomètre XR 4.0 et d'optimiser les applications de diffraction et d'analyse des matériaux.

  • 09056-01 : Cristal de bromure de potassium (KBr) XR 4.0
  • 09056-05 : Cristal de fluorure de lithium (LiF) pour rayons X, monté
  • 09058-02 : Porte-cristal universel pour unité à rayons X
  • 09058-09 : Porte-échantillon pour poudres, destiné aux applications de diffractométrie
  • 09058-36 : Détecteur d'énergie pour rayons X (XRED)



Travaux pratiques réalisables avec le goniomètre XR 4.0

Référence Désignation du TP
P2540105 Rayons X caractéristiques du cuivre
P2540205 Rayons X caractéristiques du molybdène
P2540305 Rayons X caractéristiques du fer
P2540405 Intensité des rayons X caractéristiques en fonction du courant et de la tension anodiques
P2540505 Monochromatisation des rayons X du molybdène
P2540605 Monochromatisation des rayons X du cuivre
P2540705 Double dédoublement de la raie Kα du molybdène et étude de sa structure fine
P2540805 Dédoublement du doublet Kα du fer et étude de sa structure fine
P2540905 Loi de déplacement de Duane-Hunt et quantum d'action de Planck
P2541005 Raies caractéristiques des rayons X de différents matériaux d'anode et loi de Moseley
P2541105 Absorption des rayons X
P2541205 Seuils d'absorption K et L des rayons X, loi de Moseley et constante de Rydberg
P2541305 Étude de la structure de monocristaux de NaCl selon différentes orientations
P2541705 Diffusion Compton des rayons X
P2542105 Figures de diffraction de Debye-Scherrer de poudres présentant trois réseaux cubiques de Bravais (géométrie Bragg-Brentano)
P2542205 Figures de diffraction de Debye-Scherrer de poudres à structure diamant (géométrie Bragg-Brentano)
P2542305 Figures de diffraction de Debye-Scherrer de poudres à structure cristalline hexagonale
P2542405 Figures de diffraction de Debye-Scherrer de poudres à structure cristalline tétragonale
P2542505 Figures de diffraction de Debye-Scherrer d'un échantillon de poudre cubique
P2542605 Mesure de l'intensité des réflexions de Debye-Scherrer à partir d'un échantillon de poudre cubique
P2542705 Mesures de diffraction de Debye-Scherrer pour l'étude de la texture de tôles laminées
P2542805 Rayons X caractéristiques du tungstène
P2544005 Spectroscopie énergétique des rayons X – Étalonnage du détecteur d'énergie X
P2544105 Résolution en énergie du détecteur de rayons X
P2544205 Rayonnement de fluorescence intrinsèque du détecteur de rayons X
P2544505 Spectroscopie qualitative de fluorescence X des métaux – Loi de Moseley
P2544605 Analyse qualitative par fluorescence X de matériaux alliés
P2544705 Analyse qualitative par fluorescence X d'échantillons de poudre
P2544805 Analyse qualitative par fluorescence X de solutions
P2544905 Analyse qualitative par fluorescence X d'échantillons de minerais
P2545005 Analyse quantitative par fluorescence X de matériaux alliés
P2545105 Analyse quantitative par fluorescence X de solutions
P2545205 Spectroscopie de fluorescence X – Détermination de l'épaisseur de couches
P2546005 Effet Compton – Mesure directe dispersive en énergie
P2546105 Mesures dispersives en énergie des seuils d'absorption K et L
P2546205 Détermination des paramètres de maille d'un monocristal
P2546305 Loi de déplacement de Duane-Hunt



09057-99

Fiche technique

NDP (Système Harmonisé)
90230010

Références spécifiques

Téléchargement

09057-10 Operating Instructions

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