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Référence : 09057-99
L’unité experte XR 4.0 est un système de production de rayons X piloté par microprocesseur, conçu pour l’enseignement scientifique, les universités, les centres de formation professionnelle et les laboratoires de recherche. Compatible avec des tubes à rayons X interchangeables à anodes en fer, cuivre, molybdène et tungstène, elle permet de réaliser un vaste programme de travaux pratiques en physique des rayons X, cristallographie, analyse des matériaux, fluorescence X, dosimétrie et tomographie assistée par ordinateur.
Son écran couleur TFT de 4,3 pouces, sa commande par ordinateur via USB 2.0, ses dispositifs de surveillance indépendants et son éclairage intérieur à LED facilitent la réalisation et le suivi des expériences.
Important : au moins un tube à rayons X compatible, vendu séparément, est nécessaire au fonctionnement de l’unité.
L’unité experte XR 4.0 est un système pédagogique de radiographie X à commande par microprocesseur, doté d’une technologie de remplacement rapide des tubes à rayons X. Elle est destinée aux établissements d’enseignement secondaire et supérieur, aux centres de formation professionnelle et aux laboratoires scientifiques souhaitant disposer d’une plateforme polyvalente pour l’étude expérimentale des rayons X.
Son enceinte entièrement blindée est conçue pour les expériences pédagogiques mettant en œuvre des rayons X. Le système intègre des circuits indépendants de surveillance de la position et du verrouillage de la porte. Pour toute utilisation, les exigences réglementaires locales en matière de radioprotection doivent être respectées. Toute affirmation de conformité officielle aux exigences du Bundesamt für Strahlenschutz (BfS), l’Office fédéral allemand de radioprotection, doit être vérifiée dans la documentation du fabricant.
La technologie de tubes interchangeables permet de réaliser des expériences avec différentes anodes : fer (Fe), cuivre (Cu), molybdène (Mo) et tungstène (W). Les réglages de haute tension et du courant d’émission permettent d’adapter les conditions de fonctionnement aux objectifs expérimentaux. Le pilotage s’effectue directement depuis l’écran intégré ou à partir d’un ordinateur via USB 2.0.
Système de commande et d’affichage
Sécurité
Paramètres de fonctionnement
Dimensions et alimentation électrique
Au moins un tube à rayons X compatible, vendu séparément, est indispensable au fonctionnement de l’unité XR 4.0.
Les kits d’extension suivants permettent d’élargir les possibilités expérimentales de l’unité XR 4.0 et de couvrir des domaines complémentaires de la physique et de l’analyse des matériaux.
| Référence | Désignation |
|---|---|
| 09125-88 | Kit d’extension XR 4.0 pour la physique des solides par rayons X |
| 09135-88 | Kit d’extension XRC 4.0 pour l’étude des caractéristiques des rayons X |
| 09145-88 | Kit d’extension XR 4.0 pour l’analyse structurale par rayons X |
| 09155-88 | Kit d’extension XR 4.0 pour l’imagerie par rayons X |
| 09165-88 | Kit d’extension XR 4.0 pour l’étude des matériaux par rayons X |
| 09175-88 | Kit d’extension XR 4.0 pour la dosimétrie des rayons X |
| 09185-88 | Kit d’extension XR 4.0 pour la tomographie assistée par ordinateur |
| 09057-10 | Goniomètre XR 4.0 pour expériences avec rayons X |
L’unité XR 4.0 peut être utilisée dans le cadre d’un programme étendu de travaux pratiques, sous réserve de disposer des tubes, détecteurs, accessoires et kits d’extension requis pour chaque expérience. Les expériences ci-dessous sont classées par domaine afin de faciliter la sélection des activités adaptées aux objectifs pédagogiques.
A. Rayons X : principes fondamentaux et applications
| Référence | Titres des expériences |
|---|---|
| P2540015 | Caractéristiques du tube compteur |
| P2540025 | Examen radiographique d’objets |
| P2540035 | Étude qualitative de l’absorption des rayons X |
| P2540045 | Effet ionisant des rayons X |
| P2540105 | Rayons X caractéristiques du cuivre |
| P2540205 | Rayons X caractéristiques du molybdène |
| P2540305 | Rayons X caractéristiques du fer |
| P2540405 | Influence du courant anodique et de la tension anodique sur l’intensité des rayons X caractéristiques |
| P2540505 | Monochromatisation des rayons X du molybdène |
| P2540605 | Monochromatisation des rayons X du cuivre |
| P2540705 | Décomposition du doublet Kα du molybdène et étude de sa structure fine |
| P2540805 | Décomposition du doublet Kα du fer et étude de sa structure fine |
| P2540905 | Loi de déplacement de Duane-Hunt et détermination de la constante de Planck |
| P2541005 | Raies caractéristiques de différents matériaux d’anode et loi de Moseley |
| P2541105 | Absorption des rayons X |
| P2541205 | Seuils d’absorption K et L : loi de Moseley et relation de Rydberg |
| P2541705 | Diffusion Compton |
| P2541805 | Dosimétrie des rayons X |
B. Cristallographie et diffraction des rayons X
| Référence | Titres des expériences |
|---|---|
| P2541305 | Orientation de monocristaux de NaCl |
| P2541405 | Structures cristallines cubiques : méthode des poudres de Debye-Scherrer |
| P2541505 | Structures cristallines hexagonales : méthode des poudres de Debye-Scherrer |
| P2541605 | Étude des structures cristallines par la méthode de Laue |
| P2541606 | Méthode de Laue avec le capteur numérique d’images radiographiques XRIS |
| P2542105 | Diagrammes de Debye-Scherrer de poudres présentant trois réseaux de Bravais cubiques, selon la géométrie de Bragg-Brentano |
| P2542205 | Analyse par diffraction des poudres de structures cristallines de type diamant |
| P2542305 | Analyse par diffraction des poudres de structures hexagonales |
| P2542405 | Analyse par diffraction des poudres de structures tétragonales |
| P2542505 | Analyse par diffraction des poudres de structures cubiques |
| P2542605 | Étude de l’intensité des réflexions de Debye-Scherrer à l’aide d’une poudre cristalline cubique |
| P2542705 | Étude de la texture de tôles laminées par diffraction des rayons X selon la méthode de Debye-Scherrer |
| P2546205 | Détermination des paramètres de maille d’un monocristal |
C. Analyse par fluorescence X et spectroscopie énergétique
| Référence | Titres des expériences |
|---|---|
| P2542805 | Rayons X caractéristiques du tungstène |
| P2544005 | Spectroscopie énergétique des rayons X et étalonnage du détecteur |
| P2544105 | Résolution énergétique du détecteur |
| P2544205 | Rayonnement de fluorescence intrinsèque du détecteur |
| P2544505 | Analyse qualitative par fluorescence X des métaux et loi de Moseley |
| P2544605 | Analyse qualitative par fluorescence X de matériaux alliés |
| P2544705 | Analyse qualitative par fluorescence X d’échantillons pulvérulents |
| P2544805 | Analyse qualitative par fluorescence X de solutions |
| P2544905 | Analyse qualitative par fluorescence X d’échantillons de minerais |
| P2545005 | Analyse quantitative par fluorescence X de matériaux alliés |
| P2545105 | Analyse quantitative par fluorescence X de solutions |
| P2545205 | Mesure de l’épaisseur de couches par fluorescence X |
| P2546005 | Étude de l’effet Compton par mesure directe de l’énergie |
| P2546105 | Étude des seuils d’absorption K et L par spectroscopie dispersive en énergie |
| P2546305 | Vérification de la loi de Duane-Hunt |
D. Imagerie radiographique, tomographie et applications
| Référence | Titres des expériences |
|---|---|
| P2541905 | Étude d’un produit de contraste à l’aide d’un modèle de vaisseau sanguin |
| P2542005 | Détermination de la longueur et de la position d’un objet invisible |
| P2550105 | Tomographie assistée par ordinateur |
| P2550106 | Principes de l’imagerie radiographique numérique |
| P2550205 | Principes de l’atténuation des rayons X et du contraste |
| P2550305 | Principes de l’intensité du faisceau |
| P2550405 | Principes de résolution et de détection des détails |
| P2550505 | Principes de l’acquisition tomographique |
| P2550605 | Alignement de la caméra |
| P2550705 | Optimisation de la qualité des images tomographiques |
| P2550805 | Durcissement du faisceau et artefacts métalliques |
| P2550905 | Unités de Hounsfield |